हां, परिवेश का तापमान वास्तव में ए के परीक्षण परिणामों को प्रभावित करता है स्वीप आवृत्ति प्रतिक्रिया विश्लेषण परीक्षण उपकरण, मुख्य रूप से निम्नलिखित तंत्र के माध्यम से:
1. घुमावदार प्रतिरोध में
एक कंडक्टर का प्रतिरोध बढ़ते तापमान के साथ बढ़ता है (सूत्र r 2= r1 [1+ (t2 {t1)] r2=r1 [1+ (t2}}} (t2}}}}}} {
बढ़े हुए प्रतिरोध से वाइंडिंग में उच्च नुकसान होता है।
आवृत्ति प्रतिक्रिया विश्लेषण (FRA) में, उच्च नुकसान (मुख्य रूप से प्रतिरोधक नुकसान) प्रतिक्रिया वक्र के आयाम में कमी का कारण बनते हैं, विशेष रूप से मध्य - से - उच्च आवृत्ति रेंज में। उच्च - आवृत्ति संकेत प्रतिरोधक नुकसान के लिए अधिक अतिसंवेदनशील होते हैं।
परिणामों पर प्रभाव: जैसे -जैसे तापमान बढ़ता है, संपूर्ण प्रतिक्रिया वक्र, विशेष रूप से मध्य - से - उच्च आवृत्ति भाग, आयाम में नीचे की ओर बदलाव (अधिक नकारात्मक हो जाता है)। यह वास्तविक घुमावदार विरूपण सुविधाओं को मुखौटा कर सकता है या मामूली विकृति (जैसे, समग्र आयाम में कमी) से मिलता -जुलता कलाकृतियां बना सकता है।
2.diectric निरंतर और कैपेसिटिव प्रभाव:
ट्रांसफार्मर वाइंडिंग टर्न, लेयर्स, डिस्क और ग्राउंड के बीच वितरित कैपेसिटेंस मौजूद हैं। ये समाई गंभीर रूप से आवृत्ति प्रतिक्रिया वक्र को आकार देती हैं।
इन्सुलेट सामग्री (जैसे, तेल, कागज) का ढांकता हुआ स्थिर तापमान के साथ बदलता है। आम तौर पर, तापमान बढ़ने के साथ यह बढ़ता है।
एक बढ़ा हुआ ढांकता हुआ निरंतर वितरित कैपेसिटेंस के मूल्यों को थोड़ा बढ़ाता है।
परिणामों पर प्रभाव: समाई में परिवर्तन सर्किट की गुंजयमान आवृत्तियों को बदल देता है। यह आवृत्ति प्रतिक्रिया वक्र पर गुंजयमान चोटियों/डिप्स की स्थिति (आवृत्ति बिंदु) में मामूली बदलाव का कारण बन सकता है। जबकि आम तौर पर प्रतिरोध परिवर्तन के कारण आयाम बदलाव की तुलना में कम महत्वपूर्ण है, इस प्रभाव को उच्च - सटीक तुलना या निदान के लिए विचार की आवश्यकता है।
3. वाइंडिंग पर मैकेनिकल स्ट्रेस (मामूली और अप्रत्यक्ष):
चरम या तेजी से तापमान परिवर्तन अंतर थर्मल विस्तार/आंतरिक सामग्री (कंडक्टर, इन्सुलेशन, समर्थन) के संकुचन का कारण बन सकता है, जो मामूली यांत्रिक तनाव पैदा करता है।
परिणामों पर प्रभाव: सैद्धांतिक रूप से, यह घुमावदार ज्यामिति में बहुत छोटे, संभावित प्रतिवर्ती परिवर्तन का कारण बन सकता है। ये परिवर्तन आमतौर पर घुमावदार विरूपण परीक्षकों (जो महत्वपूर्ण यांत्रिक विस्थापन/विरूपण को लक्षित करते हैं) द्वारा विश्वसनीय पता लगाने के लिए बहुत सूक्ष्म होते हैं, लेकिन महत्वपूर्ण मामलों में, परीक्षण परिणाम दोहराव को बहुत कमजोर रूप से प्रभावित कर सकते हैं।
4. परीक्षक के स्वयं के बहाव (ध्यान देने की आवश्यकता है):
परीक्षक (एम्पलीफायरों, फिल्टर, एडीसी, आदि) के भीतर इलेक्ट्रॉनिक घटकों के प्रदर्शन पैरामीटर भी परिवेश के तापमान में बदलाव के साथ थोड़ा बहाव कर सकते हैं।
परिणामों पर प्रभाव: आधुनिक उच्च - गुणवत्ता उपकरण इस बहाव को कम करने और अंशांकन के माध्यम से इसके प्रभावों को कम करने के लिए डिज़ाइन किए गए हैं। हालांकि, चरम तापमान के तहत या कम - अंतिम उपकरणों के साथ, परीक्षक का स्वयं का तापमान बहाव अतिरिक्त माप त्रुटियों को पेश कर सकता है।